| 含铋层状结构铁电体PbBi_4Ti_4O_(15)和SrBi_4Ti_4O_(15)的X射线衍射数据的测定 |
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| 引用本文： | 郭常霖,吴毓琴.含铋层状结构铁电体PbBi_4Ti_4O_(15)和SrBi_4Ti_4O_(15)的X射线衍射数据的测定[J].物理学报,1980(11). |
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| 作者姓名： | 郭常霖 吴毓琴 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海硅酸盐研究所
(郭常霖)，中国科学院上海硅酸盐研究所(吴毓琴) |
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| 摘 要： | 用衍射仪和Guinier聚焦相机收集了含秘层状结构铁电体PbBi_4Ti_4O_(15)SrBi_4Ti_4O_(15)的X射线粉末衍射图谱(Cu Ka),给出了d值大1.13A的88和76条衍射线的衍射数据和指标。它们都属正交晶系,空间群Bb2_1m(C_2v~(12)),点阵常数和X射线理论密度为 PbBi_4Ti_4O_(15)α=5.431A,b=5.459A,c=41.36A;z=4;D_x=7.986g/cm~3. SrBi_4Ti_4O_(15):α=5.428A,b=5.438A,c=40.94A;Z=4;D_x=7.447g/cm~3.
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