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软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体
引用本文:王琛,安红海,贾果,方智恒,王伟,孟祥富,谢志勇,王世绩.软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体[J].物理学报,2014(21):292-297.
作者姓名:王琛  安红海  贾果  方智恒  王伟  孟祥富  谢志勇  王世绩
作者单位:上海激光等离子体研究所
基金项目:国家自然科学基金(批准号:11075146)资助的课题~~
摘    要:激光辐照靶产生的等离子体电子密度的诊断对于惯性约束聚变、高能量密度物理等相关领域的研究具有重要意义,特别是高Z材料等离子体临界面附近的电子密度分布信息的测量.利用软X射线激光作为探针是诊断等离子体电子密度分布的一种重要方法,但在诊断激光辐照高Z材料产生的等离子体研究中,遇到了高Z材料等离子体自发辐射过大的问题,难以开展.为此,针对软X射线激光的特点,发展了多种具体的实验技术.通过综合利用这些技术,大大的抑制了待测等离子体自发辐射对信号的影响,使得软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体成为可能.作为典型例子,实验诊断了激光辐照金平面靶的等离子体,获得了清晰的实验图像,表明相关的技术是有效和可行的.

关 键 词:等离子体诊断  激光探针技术  软X射线激光  高Z材料等离子体
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