| 用场发射显微镜研究单壁碳纳米管场发射 |
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| 引用本文： | 孙建平,张兆祥,侯士敏,赵兴钰,施祖进,顾镇南,刘惟敏,薛增泉.用场发射显微镜研究单壁碳纳米管场发射[J].物理学报,2001,50(9):1805-1809. |
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| 作者姓名： | 孙建平 张兆祥 侯士敏 赵兴钰 施祖进 顾镇南 刘惟敏 薛增泉 |
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| 作者单位： | 1. 北京大学电子学系
2. 北京大学化学与分子工程学院 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号:69971003,69890221)和教育部科学技术研究重点项目(批准号:00005)资助的课题. |
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| 摘 要： | 利用场发射显微镜在小于4.0×10-7Pa压强条件下研究了单壁碳纳米管微束在不同温度加热除气后的场发射变化,得出随着除气温度的升高,碳纳米管逸出功经历了从大到小再变大的变化过程.在清洁态(1000℃除气)对应有最小的逸出功,此时场发射图像显示出一定的细致结构.继续升高温度,碳纳米管发生塌缩.
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| 关 键 词： | 场发射 场发射显微镜 单壁碳纳米管 逸出功 |
| 修稿时间： | 2001年3月9日 |
A Study of Field Emission of Single-Walled Carbon Nanotubes Using Field Emission Microscopy |
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