| 浮栅ROM器件x射线剂量增强效应实验研究 |
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| 引用本文： | 郭红霞,陈雨生,张义门,韩福斌,贺朝会,周辉.浮栅ROM器件x射线剂量增强效应实验研究[J].物理学报,2002,51(10):2315-2319. |
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| 作者姓名： | 郭红霞 陈雨生 张义门 韩福斌 贺朝会 周辉 |
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| 作者单位： | (1)西安电子科技大学微电子所,西安710071; (2)西安电子科技大学微电子所,西安710071,西北核技术研究所,西安710024; (3)西北核技术研究所,西安710024 |
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| 摘 要： | 给出了浮栅ROM器件在钴源和北京同步辐射装置(BSRF)3W1白光束线辐照的实验结果;比较了两种辐照的实验结果及其损伤异同性.通过实验在线测得位错误数随总剂量的变化,给出相同累积剂量时x射线辐照和γ射线辐照的总剂量效应损伤等效关系.获得了浮栅ROM器件x射线剂量增强因子.这些结果对器件抗x射线辐射加固技术研究有重要价值
关键词：
EEPROM
x射线
剂量增强剂量效应
同步辐射
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| 关 键 词： | EEPROM x射线 剂量增强剂量效应 同步辐射 |
| 文章编号： | 1000-3290/2002/51(10)/2315-05 |
| 收稿时间： | 1/2/2002 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 2002年1月2日 |
Experimental study on x-rays dose enhancement effects for floating gate ROMs |
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| Guo Hong-Xi,Chen Yu-Sheng,Zhang Yi-Men,Han Fu-Bin,He Chao-Hui and Zhou Hui.Experimental study on x-rays dose enhancement effects for floating gate ROMs[J].Acta Physica Sinica,2002,51(10):2315-2319. |
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| Authors: | Guo Hong-Xi Chen Yu-Sheng Zhang Yi-Men Han Fu-Bin He Chao-Hui and Zhou Hui |
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| Abstract: |
Keywords： |
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| Keywords: | EEPROM x rays dose enhancement effects synchrotron radiation |
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