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射频磁控溅射法制备SnO2:Sb薄膜的结构和光致发光性质研究
引用本文:王玉恒,马 瑾,计 峰,余旭浒,张锡健,马洪磊.射频磁控溅射法制备SnO2:Sb薄膜的结构和光致发光性质研究[J].物理学报,2005,54(4):1731-1735.
作者姓名:王玉恒  马 瑾  计 峰  余旭浒  张锡健  马洪磊
作者单位:山东大学物理与微电子学院, 济南 250100;山东大学物理与微电子学院, 济南 250100;山东大学物理与微电子学院, 济南 250100;山东大学物理与微电子学院, 济南 250100;山东大学物理与微电子学院, 济南 250100;山东大学物理与微电子学院, 济南 250100
基金项目:国家自然科学基金(批准号:90401004)和教育部科学技术研究重点项目(批准号:02165)资助的课题.
摘    要:采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备出锑掺杂的氧化锡(SnO22:Sb)薄膜.制 备薄膜是具有纯氧化锡四方金红石结构的多晶膜薄,晶粒生长的择优取向为[110].室温下光致发光测量结果表明,在392nm附近存在强的紫外-紫光发射.研究了不同氧分压对薄膜结构及发光性质的影响,并对SnO22:Sb的光致发光机制进行了探索性研究.

关 键 词:SnO22:Sb薄膜,  结构特征,  光致发光,  射频磁控溅射
文章编号:1000-3290/2005/54(04)/1731-05
修稿时间:9/2/2004 12:00:00 AM

Structural and photoluminescence characters of SnO22:Sb thin films pr epared by rf magnetron sputtering
Wang Yu-Heng,Ma Jin,Ji Feng,Yu Xu-Hu,Zhang Xi-Jian and Ma Hong-Lei.Structural and photoluminescence characters of SnO22:Sb thin films pr epared by rf magnetron sputtering[J].Acta Physica Sinica,2005,54(4):1731-1735.
Authors:Wang Yu-Heng  Ma Jin  Ji Feng  Yu Xu-Hu  Zhang Xi-Jian and Ma Hong-Lei
Abstract:SnO 2:Sb films have been prepared on glass substrates by rf magnetron sputtering method. The prepared samples are polycrystalline thin films with rutile structure of pure SnO 2 and have orientation of 110] direction. The photoluminescence of the samples was measured at room temperature. An ultraviolet-violet luminescence peak near 392nm was observed. The effect of different oxygen partial pressures on the structure and luminescence was investigated, and the luminescent mechanism was also tentatively investigated.
Keywords:SnO22:Sb thin films  structural character  photoluminesce nce  rf magnetron sputtering method
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