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| 上海光源先进成像技术及应用 | |
| 作者姓名： | 谢红兰 邓彪 杜国浩 彭冠云 付亚楠 郭瀚 和友 朱文选 肖体乔 |
| 作者单位： | 中国科学院上海应用物理研究所,201204 |
| 摘 要： | <正>由于X射线波长比可见光短得多,用它来进行成像时,在理论上分辨率要比可见光高2~4个量级。而且X射线的穿透性较强,可对厚样品的内部结构进行无损检测,这是其他各种显微术所不具备的。自从伦琴1895年发现X射线以来,传统的X射线成像技术已有上百年的历史,已成为医学、生物学 |
| 关 键 词： | X射线成像技术 应用 光源 上海 无损检测 内部结构 诊断工具 材料科学 |
| 收稿时间： | 1900-01-01; |
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