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| 硅漂移电子温度测量系统的研制 | |
| 引用本文： | 宋先瑛,杨进蔚,廖敏,李旭,张轶泼,傅炳忠,罗萃文.硅漂移电子温度测量系统的研制[J].核工业西南物理研究院年报,2005(1):18-19. |
| 作者姓名： | 宋先瑛 杨进蔚 廖敏 李旭 张轶泼 傅炳忠 罗萃文 |
| 摘 要： | 在磁约束聚变装置中，对等离子体电子温度的测量一般采用电子回旋辐射法（ECE）、汤姆逊散射法以及软X射线能谱法。其中软X射线（1～20keV）能谱法是一种传统的方法，它比汤姆逊散射法的测量误差小，且有较好的时空分辨；与电子回旋辐射法（ECE）相比较，时空分辨能力相近，但可作绝对测量，并且受超热电子和逃逸电子的影响较ECE小。在软X射线能谱法的应用中，过去使用Si（Li）探测器来探测软X射线能谱，Si（Li）探测器体积大，能量分辨和量子效率低，并且需要使用液氮冷却，大体积的杜瓦（通常35L）使探测器体积庞大， |
| 关 键 词： | 软X射线能谱法 硅漂移探测器 电子温度 |
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