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| 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量 | |
| 引用本文： | 于晓光.10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量[J].中国光学与应用光学文摘,2004(6). |
| 作者姓名： | 于晓光 |
| 摘 要： | O484.5 2004064370 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量=Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser刊,中]/杨富(四川大学电子信息学院.四川,成都(610064)),黄伟…∥强激光与粒子束.—2004,16(3).—277-280 建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μmCO_2激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF_3薄膜。以及镀制在Ge基底上不同膜系的(YbF_3/ZnSe)多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论。实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10~(-4),测量系统的灵敏度为10~(-5)。图3表2参6(于晓光) |
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