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晶体相位延迟量的测量
引用本文:张旭,吴福全,王海龙,郝殿中,孔超,闫斌.晶体相位延迟量的测量[J].物理实验,2007,27(3):42-45.
作者姓名:张旭  吴福全  王海龙  郝殿中  孔超  闫斌
作者单位:1. 曲阜师范大学,激光研究所,山东,曲阜,273165;曲阜师范大学,物理工程学院,山东,曲阜,273165
2. 曲阜师范大学,激光研究所,山东,曲阜,273165
3. 曲阜师范大学,物理工程学院,山东,曲阜,273165
摘    要:通过2束平面偏振光的合成推导出椭偏测量的基本原理,给出了用标准1/4波片测量晶体相位延迟量的测量原理.在测量时不必知道待测晶体的具体光轴方位,只需调节标准1/4波片、待测晶体的快(慢)轴与起偏方向平行,然后将晶体逆时针转过45°.测量装置采用了步进电机带动检偏器旋转,使用光电探测器采集数据,经计算机处理,根据数据曲线直接读出待测晶体的相位延迟量.该方法可以方便快捷地测量任意相位延迟.

关 键 词:双折射晶体  相位延迟  1/4波片
文章编号:1005-4642(2007)03-0042-04
修稿时间:2006-06-26

Measuring the phase delay of crystals
ZHANG Xu,WU Fu-quan,WANG Hai-long,HAO Dian-zhong,KONG Chao,YAN Bin.Measuring the phase delay of crystals[J].Physics Experimentation,2007,27(3):42-45.
Authors:ZHANG Xu  WU Fu-quan  WANG Hai-long  HAO Dian-zhong  KONG Chao  YAN Bin
Institution:1. Laser Research Institute , Qufu Normal University, Qufu 273165, China; 2. Physics Department, Qufu Normal University, Qufu 273165, China
Abstract:
Keywords:birefringent crystal  phase delay  1/4 wave plate
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