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X光衍射实验的改进与校正
引用本文:罗来龙.X光衍射实验的改进与校正[J].物理实验,2004,24(6):8-9.
作者姓名:罗来龙
作者单位:武汉理工大学,理学院,湖北,武汉,430063
摘    要:用X射线衍射仪做定量分析衍射实验,会出现因盖革计数器存在分辨时间而漏计的现象.为了简便地测定分辨时间,本文利用单层膜二次照射技术,导出了用来校正积分强度的近似公式,并与逐点校正法作了对比分析,二者符合很好.

关 键 词:X射线  衍射  分辨时间  积分强度
文章编号:1005-4642(2004)06-0008-02
修稿时间:2003年12月4日

Amelioration of X-ray diffraction experiment
LUO Lai,long.Amelioration of X-ray diffraction experiment[J].Physics Experimentation,2004,24(6):8-9.
Authors:LUO Lai  long
Abstract:In quantitative analysis of diffraction experiment by X ray diffraction meter,resolving time of Geiger counter would result in metrical omitting. In order to measure the resolving time, the method of double irradiation on monolayer film is given, and the approximate expression to correct integrated intensity is derived. The results are in perfect accordance with point to point emendation.
Keywords:X-ray  diffraction  resolving time  integrated intensity  
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