| 肖特基结的制备与势垒测量 |
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| 引用本文： | 崔益民,陈彦,裴朝,潘晖,张高龙,钱建强,李华.肖特基结的制备与势垒测量[J].物理实验,2011,31(12). |
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| 作者姓名： | 崔益民 陈彦 裴朝 潘晖 张高龙 钱建强 李华 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学物理教学与实验中心,北京,100191 |
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| 摘 要： | 采用磁控溅射方法在Nb07％-SrTiO3基片上制作Au薄膜接触,并在氧气气氛下750℃退火30 min,在室温环境下测量电流电压和电容电压等特性曲线,观测整流特性,根据相应实验数据采用饱和电流法、电容C-2与反偏电压V成线性关系计算肖特基势垒的大小.
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| 关 键 词： | 肖特基势垒 电流-电压特性 电容-电压特性 势垒高度 |
Preparation and measurement of Schottky barrier |
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| CUI Yi-min,CHEN Yan,PEI Zhao,PAN Hui,ZHANG Gao-long,QIAN Jian-qiang,LI Hua.Preparation and measurement of Schottky barrier[J].Physics Experimentation,2011,31(12). |
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| Authors: | CUI Yi-min CHEN Yan PEI Zhao PAN Hui ZHANG Gao-long QIAN Jian-qiang LI Hua |
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| Institution: | CUI Yi-min,CHEN Yan,PEI Zhao,PAN Hui,ZHANG Gao-long,QIAN Jian-qiang,LI Hua(Physics Education and Experiment Center,Beihang University,Beijing 100191,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Schottky barrier current-voltage characteristic capacitance-voltage characteristic barrier height |
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