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包埋于氮化硅薄膜中的硅团簇的光致发光特性
引用本文:王颖,申德振,刘益春,张吉英,张振中,刘英麟,吕有明,范希武.包埋于氮化硅薄膜中的硅团簇的光致发光特性[J].发光学报,2004,25(6):705-709.
作者姓名:王颖  申德振  刘益春  张吉英  张振中  刘英麟  吕有明  范希武
作者单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,激发态物理重点实验室,吉林,长春,130033
基金项目:国家自然科学重点基金(60336020),"863"高技术项目(2001AA31112),国家自然科学基金(60278031,60176003,60376009),中科院创新工程资助项目
摘    要:采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)技术,在低温下制备了富硅氢化氮化硅薄膜。利用红外吸收(IR)谱,光电子能谱(XPS)和光致发光(PL)谱,研究了在不同温度下退火的薄膜样品的结构和发光特性。在经过低温退火的薄膜中观测到一个强的可见发光峰。当退火温度较高时,随着与硅悬键有关的发光峰消失,可见发光峰位发生了蓝移。讨论了退火对薄膜中硅团簇的形成及其对发光的影响。根据Raman谱,计算了氮化硅薄膜中硅团簇的尺寸大小。通过实验结果和分析,我们认为PL谱中较强的室温可见发光峰来自于包埋于氮化硅中的硅团簇。

关 键 词:等离子体增强化学气相沉积  光致发光  硅团簇  量子限制效应
文章编号:1000-7032(2004)06-0705-05
修稿时间:2004年4月15日

Photoluminescent Properties of Si Clusters Embedded in Silicon Nitride Films
WANG Ying,SHEN De-zhen,LIU Yi-chun,ZHANG Ji-ying,ZHANG Zhen-zhong,LIU Ying-lin,LU You-ming,FAN X Wptics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun ,China.Photoluminescent Properties of Si Clusters Embedded in Silicon Nitride Films[J].Chinese Journal of Luminescence,2004,25(6):705-709.
Authors:WANG Ying  SHEN De-zhen  LIU Yi-chun  ZHANG Ji-ying  ZHANG Zhen-zhong  LIU Ying-lin  LU You-ming  FAN X Wptics  Fine Mechanics and Physics  Chinese Academy of Sciences  Changchun  China
Institution:WANG Ying,SHEN De-zhen,LIU Yi-chun,ZHANG Ji-ying,ZHANG Zhen-zhong,LIU Ying-lin,LU You-ming,FAN X Wptics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun 130033,China)
Abstract:
Keywords:PECVD  photoluminescence  Si clusters  quantum confinement effect
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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