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功率高压LED模组在不同应力下的老化实验
引用本文:雷珺,郭伟玲,李松宇,谭祖雄.功率高压LED模组在不同应力下的老化实验[J].发光学报,2016(7):804-808.
作者姓名:雷珺  郭伟玲  李松宇  谭祖雄
作者单位:北京工业大学电控学院光电子技术省部共建教育部重点实验室,北京,100124
基金项目:“863”国家高技术研究发展计划(2015AA03305)
摘    要:对LED进行应力加速老化实验及分析可以对器件可靠性做出最快、最有效的评估。本文将相同的6V高压功率白光LED分为两组,一组施加180 m A电流应力和85℃温度应力进行高温老化实验,另一组施加180 m A电流应力、85℃高温和85%相对湿度进行高温高湿老化实验。在老化过程中,测试了LED光电参数随老化时间的变化规律。实验结果表明:高温大电流应力下的样品的光退化幅度为0.9%~3.4%,高温高湿大电流应力下的样品的光退化幅度为25.4%~27.8%,高温高湿下样品的老化程度远高于高温老化下样品的老化程度,湿度对LED可靠性有显著的影响。退化的原因包括荧光粉的退化和器件内部欧姆接触退化等。

关 键 词:白光LED  老化  光通量  光衰

Aging Experiments of High Voltage Power White LEDs Under Different Stresses
Abstract:
Keywords:white LED  aging  luminous flux  light decay
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