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以Au为缓冲层在Si衬底上生长ZnO薄膜
引用本文:崔军朋,段垚,王晓峰,曾一平,ZENG Yi-ping.以Au为缓冲层在Si衬底上生长ZnO薄膜[J].发光学报,2008,29(5).
作者姓名:崔军朋  段垚  王晓峰  曾一平  ZENG Yi-ping
作者单位:中国科学院,半导体研究所材料中心,北京,100083
摘    要:采用化学气相沉积(CVD)方法在Si(001)衬底上分别制备了有金属Au缓冲层以及无Au缓冲层的ZnO薄膜。其中Au缓冲层在物理气相沉积(PVD)设备中蒸发,厚度大约为300nm。有Au缓冲层的ZnO薄膜晶体质量比直接在Si衬底上生长有了显著提高。利用X射线衍射(XRD)研究了所生长ZnO薄膜的结晶质量,有Au缓冲层的ZnO薄膜虽然仍为多晶,但显示出明显的择优取向。用光学显微镜研究了ZnO薄膜的表面特征,金属Au缓冲层显著地提高了在Si衬底上生长的ZnO薄膜的晶粒尺寸及平整度。同时利用室温光致发光(PL)谱研究了ZnO薄膜的光学性质,并分析了有Au缓冲层的ZnO薄膜NEB发光峰强度反而弱的可能原因。

关 键 词:ZnO薄膜  Au缓冲层  化学气相沉积

ZnO Film Grown on Si Substrate with an Au Buffer Layer
CUI Jun-peng,DUAN Yao,WANG Xiao,feng,ZENG Yi-ping.ZnO Film Grown on Si Substrate with an Au Buffer Layer[J].Chinese Journal of Luminescence,2008,29(5).
Authors:CUI Jun-peng  DUAN Yao  WANG Xiao  feng  ZENG Yi-ping
Abstract:
Keywords:ZnO epitaxial film  Au buffer layer  CVD
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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