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Ag掺杂P型ZnO薄膜及其同质结的光电性质
引用本文:孙利杰,钟声,张伟英,王筝,林碧霞,傅竹西.Ag掺杂P型ZnO薄膜及其同质结的光电性质[J].发光学报,2008,29(2):304-308.
作者姓名:孙利杰  钟声  张伟英  王筝  林碧霞  傅竹西
作者单位:中国科学技术大学,物理系,安徽,合肥,230026
摘    要:采用磁控溅射技术在Si基片上生长了Ag掺杂的ZnO薄膜,XRD测试表明所得薄膜结晶性质良好,未出现Ag的分相。未掺杂和Ag掺杂氧化锌薄膜的低温(10K)光致发光(PL)谱显示:Ag的掺入使得中性施主束缚激子发射(D0X)显著减弱,并且在3.315eV处观测到了与Ag有关的施主-受主对(DAP)发射,受主缺陷的形成归因于掺入的Ag替位Zn。计算得到受主能级离价带顶约110meV。霍尔效应测得电阻率约0.1Ω.cm,迁移率约36cm2/V.s,空穴浓度约1.7×1018cm-3。在此基础上制备了ZnO∶Ag/ZnO的同质结,I-V测试显示了明显的整流特性,且反向漏电流很小。所有结果表明Ag掺杂的氧化锌薄膜已经转化为p型。

关 键 词:Ag掺杂氧化锌  低温PL谱  施主-受主对  同质结
文章编号:1000-7032(2008)02-0304-05
修稿时间:2007年10月25

Electrical and Optical Properties of Ag Doped p-type ZnO Films and Its Homojunctions Properties
SUN Li-jie,ZHONG Sheng,ZHANG Wei-ying,WANG Zheng,LIN Bi-xia,FU Zhu-xi.Electrical and Optical Properties of Ag Doped p-type ZnO Films and Its Homojunctions Properties[J].Chinese Journal of Luminescence,2008,29(2):304-308.
Authors:SUN Li-jie  ZHONG Sheng  ZHANG Wei-ying  WANG Zheng  LIN Bi-xia  FU Zhu-xi
Abstract:
Keywords:Ag doped ZnO  low temperature PL spectra  DAP  homojunction
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