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RTA对氮化硅薄膜发光光谱的影响
引用本文:刘渝珍,石万全,赵玲莉,孙宝银,叶甜春.RTA对氮化硅薄膜发光光谱的影响[J].发光学报,2003,24(1):66-68.
作者姓名:刘渝珍  石万全  赵玲莉  孙宝银  叶甜春
作者单位:1. 中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院微电子研究中心,北京,100010
基金项目:科技部专项基金资助项目 ( 2 0 0 1DIB2 0 10 7)
摘    要:在5.0eV的激光激发下,在室温下富硅的LPCVD氮化硅薄膜可发射六个PL峰,其峰位分别为2.97,2.77,2.55,2.32,2.10,1.9eV。经900-1100℃在N2气氛下快速退火(RTA)处理后,样品的六个PL峰变为3.1,2.0,2.85,2.6,2.36,2.2eV。本文对退火前后PL峰的产生和变化机制进行了初步探讨。

关 键 词:发光光谱  LPCVD  氮化硅薄膜  快速退火  RTA
文章编号:1000-7032(2003)01-0066-03

Study of PL Spectrum from LPCVD-Si3N4 Film after Rapid Thermal Annealing
LIU Yu-zhen ,SHI Wan-quan ,ZHAO Ling-li ,SUN Bao-yin ,YE Tian-chun.Study of PL Spectrum from LPCVD-Si3N4 Film after Rapid Thermal Annealing[J].Chinese Journal of Luminescence,2003,24(1):66-68.
Authors:LIU Yu-zhen  SHI Wan-quan  ZHAO Ling-li  SUN Bao-yin  YE Tian-chun
Institution:LIU Yu-zhen 1,SHI Wan-quan 1,ZHAO Ling-li 2,SUN Bao-yin 2,YE Tian-chun 2
Abstract:
Keywords:low pressure chemical vapor deposition (LPCVD)  silicon nitride film  rapid thermal annealing (RTA)
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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