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| 点缺陷对Al0.5 Ga0.5 N纳米片的电子性质和光学性质影响:第一性原理研究 | |
| 引用本文： | 屈艺谱,陈雪,王芳,刘玉怀.点缺陷对Al0.5 Ga0.5 N纳米片的电子性质和光学性质影响:第一性原理研究[J].发光学报,2019,40(8). |
| 作者姓名： | 屈艺谱 陈雪 王芳 刘玉怀 |
| 作者单位： | 郑州大学 信息工程学院,产业技术研究院, 河南 郑州 450001;郑州大学 信息工程学院,产业技术研究院, 河南 郑州 450001;郑州大学 信息工程学院,产业技术研究院, 河南 郑州 450001;郑州大学 信息工程学院,产业技术研究院, 河南 郑州 450001 |
| 基金项目： | 国家重点科研项目;河南省科技重点项目;国家自然科学基金 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | Al0.5Ga0.5N纳米片 第一性原理 电子结构 光学性质 |
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