首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量
引用本文:傅竹西,林碧霞,何一平,廖桂红.ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量[J].发光学报,2002,23(6):559-562.
作者姓名:傅竹西  林碧霞  何一平  廖桂红
作者单位:中国科学院结构分析开放实验室;中国科学技术大学,物理系,安徽,合肥,230026
基金项目:国家自然科学基金(10174072,50142016),国家科技部快速反应基金([2001]584)资助项目
摘    要:采用正入射的方法研究了生长在硅基片上的氧化锌薄膜的反射光谱,测量出氧化锌薄膜的光学吸收边在370nm,所对应的能量值为3.35eV,测量生长在石英玻璃基片上的氧化锌薄膜的透射光谱,得到相同的吸收边,表明ZnO薄膜的光学禁带宽度与体材料的禁带宽度一致,反射谱中,在550-600nm之间观察到一个吸收峰,吸收峰的位置以及吸收边的陡峭程度都薄膜的结晶状况的不同而有所不同。

关 键 词:ZnO薄膜  反射光谱  透射光谱  能带结构  测量  禁带宽度  氧化锌薄膜
文章编号:1000-7032(2002)06-0559-04
修稿时间:2002年8月3日

Reflection and Transmission Spectra of ZnO Films and Its Band-gap Structure
Abstract:
Keywords:ZnO films  reflection spectra  transparence spectra  band-gap structure
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号