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C_(pk)写控制图的研究与应用
引用本文:魏世振,韩玉启.C_(pk)写控制图的研究与应用[J].数理统计与管理,2003,22(3):32-35.
作者姓名:魏世振  韩玉启
作者单位:南京理工大学经济管理学院南京210094
摘    要:控制图与过程能力指数Cp(Cpk)都是用来进行质量分析与处理的重要工具。文 1]谈及控制图的两类错误 (其概率分别为α、β) ,文 2 ]讨论了Cpk与α的关系 ,但涉及Cpk与控制图检出力 (1- β)关系的文章却不多。本文以 X控制图为例 ,讨论了α、β、1- β、与Cpk的关系 ,得出了联合应用它们会对工序状态有较好的了解 ,对其适当的调整有助於提高产品质量

关 键 词:过程能力指数  两类错误  控制限
文章编号:1002-1566(2003)03-0032-04
修稿时间:2001年10月25

Cpk and control chart and their applications
WEI Shi,zhen,HAN Yu,qi.Cpk and control chart and their applications[J].Application of Statistics and Management,2003,22(3):32-35.
Authors:WEI Shi  zhen  HAN Yu  qi
Abstract:Control chart and Process capability index C p(C pk )are important tools for quality analysis and treatment.The probability α,β of Type Ⅰ,Ⅱ error were talked about in 1],the relationship between C pk and α was presented in 2],but few papers about the relations between C pk and the detecting power(1-β).This paper studies relations among α,β,(1-β)and C pk at last a numerical illustration is also given.
Keywords:Process capability index  Type Ⅰ Ⅱ error  Detecting power
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