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两总体下双参数指数分布门限参数的比较
引用本文:李正帮,李波,周小双,赵培信.两总体下双参数指数分布门限参数的比较[J].数学杂志,2008,28(1):100-104.
作者姓名:李正帮  李波  周小双  赵培信
作者单位:1. 华中师范大学数学与统计学学院,湖北,武汉,430079
2. 武汉大学数学与统计学院,湖北,武汉,430072
基金项目:国家自然科学基金 , 国家自然科学基金
摘    要:本文研究了当刻度参数未知时,双参数指数分布门限参数的检验问题.利用了似然比检验的方法,获得了检验统计量及检验水平的上下界.该方法应用在两个截尾数相等情形下,所得到的检验水平是真实的.

关 键 词:定数截尾  双参数指数分布  检验  双参数指数分布  门限参数  比较  EXPONENTIAL  DISTRIBUTION  PARAMETERS  GATE  尾数  应用  上下界  检验水平  检验统计量  方法  似然比检验  利用  检验问题  刻度参数  研究
文章编号:0255-7797(2008)01-0100-05
收稿时间:2005-11-14
修稿时间:2005-12-19

COMPARISON FOR GATE PARAMETERS OF TWO-PARAMETER EXPONENTIAL DISTRIBUTION UNDER TWO POPULATIONS
LI Zheng-bang,LI Bo,ZHOU Xiao-shuang,ZHAO Pei-xin.COMPARISON FOR GATE PARAMETERS OF TWO-PARAMETER EXPONENTIAL DISTRIBUTION UNDER TWO POPULATIONS[J].Journal of Mathematics,2008,28(1):100-104.
Authors:LI Zheng-bang  LI Bo  ZHOU Xiao-shuang  ZHAO Pei-xin
Abstract:In this paper, we discuss the hypothesis testing problem for gate parameters of two-parameter exponential distribution under two populations based on the idea of likelihood functions ratio. Test statistics is derived ,and we get its distribution under the null hypothesis.
Keywords:
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