用原位光发射谱研究电子增强热丝CVD金刚石膜生长过程 |
| |
引用本文: | 崔景彪,马玉蓉,方容川.用原位光发射谱研究电子增强热丝CVD金刚石膜生长过程[J].中国科学A辑,1996,39(11):1038-1043. |
| |
作者姓名: | 崔景彪 马玉蓉 方容川 |
| |
作者单位: | 中国科学技术大学物理系 结构分析开放实验室,合肥230026 |
| |
摘 要: | 利用光发射谱对电子增强热丝CVD金刚石薄膜的生长过程进行了原位检测,并实现空间分辨测量,系统地研究了衬底偏压、甲烷浓度、衬底温度等反应条件对原位光发射谱的影响,给出了有关反应基团空间分布及电子能量状态等对金刚石生长极其重要的信息,并同薄膜的生长进行了比较.结果表明甲烷浓度和衬底温度对金刚石膜生长的影响分别来自不同反应机制,提高原子氢的浓度,同时降低CH基团的浓度是生长优质金刚石膜所需的条件.
|
关 键 词: | 金刚石薄膜 生长过程 光发射谱 反应基团 |
|
| 点击此处可从《中国科学A辑》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《中国科学A辑》下载免费的PDF全文 |
|