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| 一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG | |
| 引用本文： | 李忠诚,潘榆奇,闵应骅.一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG[J].中国科学A辑,1993,36(2):189-196. |
| 作者姓名： | 李忠诚 潘榆奇 闵应骅 |
| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 北京 100080 |
| 摘 要： | 本文首次介绍一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG.该系统从局部产生测试和后效作用两个新概念出发,以FAN算法为基础,采用局部蕴涵利用已知不可测故障加速测试产生和故障信号的共同敏化三项新技术.对ISCAS’8510个组合电路的测试产生结果表明,SABATPG与基于FAN算法的测试产生系统相比,测试产生效率提高近20％. |
| 关 键 词： | 测试产生 敏化 蕴涵 不可检测故障 |
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