400keV离子注入机中磁分析器的特殊设计 |
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引用本文: | 王克明,刘清前,张乃健,陈鄂生,张永恩.400keV离子注入机中磁分析器的特殊设计[J].中国科学A辑,1989,32(2):203-209. |
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作者姓名: | 王克明 刘清前 张乃健 陈鄂生 张永恩 |
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作者单位: | 山东大学物理系 济南 |
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摘 要: | 本文描述了400 keV离子注入机中磁分析器的特殊设计。在设计中采用了不对称双聚焦条件,并使磁分析器的横向物点是实的,纵向物点是虚的,然后用静电二元四极透镜来实现离子源初聚系统与磁分析器之间的光路匹配。这样设计的磁分析器体积小、质量分辨率高。本机的质量分辨率为200,即能分辨汞离子的六个同位素,实际的测试结果与分辨率的计算值很一致,这表明理论计算是相当成功的。
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关 键 词: | 磁分析器 离子注入机 不对称双聚焦 质量分辨率 四极透镜 |
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