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| 用Coulomb爆炸实测4HeD＋的键长 | |
| 引用本文： | 缪竞威 杨百方 师勉恭 唐阿友 许祖润 N.Cue.用Coulomb爆炸实测4HeD＋的键长[J].中国科学A辑,2000,30(12):1124-1129. |
| 作者姓名： | 缪竞威 杨百方 师勉恭 唐阿友 许祖润 N.Cue |
| 作者单位： | (1)四川大学原子核科学技术研究所, 成都 610064 ,中国 |
| 摘 要： | 用1.468 0 MeV 4HeD＋在超薄无衬碳膜中的Coulomb爆炸，获得4HeD＋的键长实测值为(0.097±0.003)nm.讨论了4HeD＋的形成机理.介绍了4HeD＋原始束中D3＋污染的降低，及产物4HeD＋＋和D＋高分辨能谱测量中的粒子鉴别方法等. |
| 关 键 词： | 4HeD＋ 微团簇 键长 核间距 |
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