关于线性抗扑空间上测度的可允许方向

对于线性拓扑空间上的数值测度μ,本文在某种意义下讨论了拟不变点集?_μ在可允许方向D_μ中的一些拓扑构造,说明对于包括通常高斯测度在内的一类测度,拟不变点全体在可允许方向中是稠的。本文结果可看作抽象Wiener空间相应结果的推广。