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成败型寿命试验──GLM和E-M算法
引用本文:王学仁.成败型寿命试验──GLM和E-M算法[J].系统科学与数学,1994,14(1):029-038.
作者姓名:王学仁
作者单位:云南省应用数学研究所(王学仁),云南大学统计系(石磊)
摘    要:成败型寿命试验──GLM和E-M算法王学仁云南省应用数学研究所石磊(云南大学统计系,昆明650091)1990年10月15日收到.1992年8月24日收到修改稿.一、引言在可靠性分析中,成败型寿命试验是经常碰到的问题.某些产品随着时间的推移,其可靠程...


BINARY LIFE DATA--GLM AND E-M ALGORITHM
WANG XUE-REN,SHI--LEI.BINARY LIFE DATA--GLM AND E-M ALGORITHM[J].Journal of Systems Science and Mathematical Sciences,1994,14(1):029-038.
Authors:WANG XUE-REN  SHI--LEI
Institution:(1)Institute of Applied Mathematics, Yunnan Province;(2)Department of Statistics,Yannan University, Kunming 650091
Abstract:In this paper, we suggest a new method to analyze the binary life data in reliability experment. The E--M algorithm of Dempster et al. is extended to GLM,which is used to study the binary life data. The situations witth and without faultshave been discussed and compared. Finally some real and simulated examples haveanalyzed for illustrating this method.
Keywords:
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