宽禁带II—VI族化合物半导体薄膜及超晶格的外延生长及特性研究 |
| |
引用本文: | 王杰,俞根才.宽禁带II—VI族化合物半导体薄膜及超晶格的外延生长及特性研究[J].物理学报,1995,44(9):1471-1479. |
| |
作者姓名: | 王杰 俞根才 |
| |
摘 要: | 介绍了宽禁带II-VI族化合物半导体ZnSe,ZnSSe和ZnCdSe外延膜及它们的超晶格的分子束外延生长。用X射线衍射法(XRD)和光致发光(PL)法分别对其结构特性和光学特性进行了研究。尤其是对超晶格样品所进行的温度变化的PL研究,得出了对于ZnSe/ZnSSe超晶格,其激子激活能(Eact)仅为17meV,我们用ZnSe/ZnSSe导带不连续较小来解释这个结果。而对于ZnCdSe/ZnSe超
|
关 键 词: | 宽禁带 化合物半导体 半导体 超晶格 外延生长 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
| 点击此处可从《物理学报》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《物理学报》下载免费的PDF全文 |
|