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液封坩埚下降法生长非掺杂InP单晶的特性研究
引用本文:康俊勇,黄启圣,松本文夫,福田承生.液封坩埚下降法生长非掺杂InP单晶的特性研究[J].发光学报,1997(3).
作者姓名:康俊勇  黄启圣  松本文夫  福田承生
作者单位:厦门大学物理系,东北大学金属材料研究所
基金项目:国家和福建省自然科学基金,留学回国人员启动基金
摘    要:用液封坩埚下降(LE-VB)法沿〈100〉晶向成功地生长了非掺杂InP单晶.LE-VB晶体的4.2K光致发光谱包含束缚于中性浅受主上的激子发光、与Zn受主相关的施主-受主(DA)对发光及其声子伴线、以及与本征缺陷等有关的深能级发光三部分.通过与液封直拉(LEC)生长的籽晶的光致发光谱比较表明,在LE-VB晶体中,束缚于中性浅受主上的激子发光与籽晶中的相差不大;DA对发光的晶格弛豫比籽晶中的小;与本征缺陷等有关的深能级发光强度比籽晶中的弱.晶体的室温光致发光谱仅包含带—带发光,其发光强度形貌测试结果表明,LE-VB晶体的带—带发光强度比LEC籽晶的强.用Huber法对晶片腐蚀的结果表明,在LE-BV晶体中,位错密度仅为LEC籽晶中的三分之一.分析认为,在LE-VB晶体中,本征缺陷和位错等浓度较低,可能是其带—带发光强度比在LEC籽晶中强的物理起因.

关 键 词:化合物半导体,光致发光,晶体生长

PROPERTIES OF UNDOPED BULK InP GROWN BY LIQUIDENCAPSULATED VERTICAL BRIDGMAN TECHNIQUE
Kang Junyong,Huang Qisheng.PROPERTIES OF UNDOPED BULK InP GROWN BY LIQUIDENCAPSULATED VERTICAL BRIDGMAN TECHNIQUE[J].Chinese Journal of Luminescence,1997(3).
Authors:Kang Junyong  Huang Qisheng
Abstract:
Keywords:compound semiconductor  photoluminescence  crystal growth
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