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| X射线荧光光谱分析中的基本参数法 | |
| 引用本文： | 吉昂,陶光仪.X射线荧光光谱分析中的基本参数法[J].分析化学,1983(3). |
| 作者姓名： | 吉昂 陶光仪 |
| 作者单位： | 中科院上海硅酸盐化学与工学研究所，中科院上海硅酸盐化学与工学研究所 |
| 摘 要： | 基本参数法是利用X射线荧光强度的理论公式计算试样各组分浓度的方法。该法的优点是仅需纯元素作标样甚至不用标样即可进行多组分的试样分析。1968年Criss等提出这一方法后,近年来在试样分析、计算经验系数法中的经验系数以及将基本参数法与经验系数法相结合等方面均取得了较大的进展,而日益受到广泛的重视。一些作者认为目前基本参数法准确度尚差,主要是因为基本参数包括原级X射线谱强度分布数据不准确所致,至今已发表的原级X射线谱强度分布数据仅钨靶就有五种之多,其中四 |
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