| 用于光谱仪消像差的施密特校正板设计 |
| |
| 引用本文： | 王岩,付璐,陈平,刘希芸,刘伟伟,林列.用于光谱仪消像差的施密特校正板设计[J].光学学报,2019,39(5):198-203. |
| |
| 作者姓名： | 王岩 付璐 陈平 刘希芸 刘伟伟 林列 |
| |
| 作者单位： | 南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津,300350;南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津,300350;南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津,300350;南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津,300350;南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津,300350;南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津,300350 |
| |
| 基金项目： | 天津市科技支撑重点项目;发光学及应用国家重点实验室开放基金 |
| |
| 摘 要： | 基于施密特系统的基本原理,设计了一种用于光谱仪消像差的施密特校正板,得到了该校正板的面形方程和面形图。利用ZEMAX软件模拟和分析了加入施密特校正板前后光谱仪系统的成像特性。结果表明:波长为350,550,700nm时,原始光谱仪像面点斑的均方根(RMS)半径分别为515.843,563.074,885.820μm,而带有施密特校正板光谱仪像面点斑的RMS半径分别为287.441,252.774,511.816μm。施密特校正板使点斑尺寸在波长为350,550,700nm时,分别缩小了44.28%、55.11%、42.23%。所提出的施密特校正板设计方法为改善光谱仪的分辨率提供了技术参考。
|
| 关 键 词： | 仪器 施密特校正板 像差 光谱仪 |
Design of Schmidt Corrector Plate for Cancelling Aberrations of Spectrometers |
| |
| Wang Yan,Fu Lu,Chen Ping,Liu Xiyun,Liu Weiwei,Lin Lie.Design of Schmidt Corrector Plate for Cancelling Aberrations of Spectrometers[J].Acta Optica Sinica,2019,39(5):198-203. |
| |
| Authors: | Wang Yan Fu Lu Chen Ping Liu Xiyun Liu Weiwei Lin Lie |
| |
| Institution: | (Institute of Modern Optics, College of Electronic Information and Optical Engineering,Nankai University, Tianjin 300350, China) |
| |
| Abstract: | Wang Yan;Fu Lu;Chen Ping;Liu Xiyun;Liu Weiwei;Lin Lie(Institute of Modern Optics, College of Electronic Information and Optical Engineering,Nankai University, Tianjin 300350, China) |
| |
| Keywords: | instrumentation Schmidt corrector plate aberration spectrometer |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
