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| 直读光谱测定高纯钨中杂质元素 | |
| 引用本文： | 王绪仁.直读光谱测定高纯钨中杂质元素[J].理化检验(化学分册),1999,35(12):563-564. |
| 作者姓名： | 王绪仁 |
| 作者单位： | 株洲硬质合金厂 株洲412000 |
| 摘 要： | 高纯钨分析要求测定的元素多(铁、铝、硅、镁、钙、钠等20种).测定下限低(1～20μg·g~(-3)).国内多采用摄谱法测定,也有采用ICP-AES法测定,但测定的元素种类较少,达不到分析要求.本文用直读光谱仪测定高纯钨中20种杂质元素的含量,满足了分析要求.1 试验部分1.1 仪器与试剂E1000型光谱仪(英国Hilger公司),真空双光谱仪.罗兰回直径1.5m,逆线色散约0.3nm·mm~(-1).缓冲剂:50g·L~(-1)Li_2CO_3和0.3g·L~(-1)Ga_2O_3的石墨粉.1.2 试验方法 |
| 关 键 词： | 高纯钨 钨 杂质元素 测定 直续光谱 |
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