纳米电子学中超高密度信息存储研究的新进展 |
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引用本文: | 庞世谨,薛增泉.纳米电子学中超高密度信息存储研究的新进展[J].物理,1998,27(2):65-67. |
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作者姓名: | 庞世谨 薛增泉 |
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作者单位: | 中国科学院物理研究所,中国科学院凝聚态物理中心北京真空物理实验室,中国科学院凝聚态物理中心北京真空物理实验室 |
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摘 要: | 超高密度信息存储是纳米电子学的重要课题,我们根据电荷转移原理,在有机复合薄膜上用扫描隧道显微镜首次得到直径为13nm的信息点阵.信息记录点的形成起源于薄膜的局域电导变化,即此有机薄膜具有电学双稳态特性
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关 键 词: | 信息存储,有机复合薄膜,扫描隧道显微镜 |
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