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| 不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估 | |
| 作者姓名： | 沈敏 肖沙里 张流强 曹玉琳 陈宇晓 |
| 作者单位： | 1.重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室, 重庆 400030; |
| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(10876044/A06) |
| 摘 要： | 碲锌镉材料(CdZnTe)是目前探测X射线和γ射线的最好材料之一。将241 Am和137 Cs辐射源作用于像素CdZnTe探测器,通过实验和仿真分别得到能量谱估计、能量分辨率和峰值效率。由实验和仿真结果得出:在662keV的高能量下,厚度较大的CdZnTe探测器可获得更高的能量分辨率和峰值效率,但在59.5keV低能处会出现拖尾升高和电荷损失的现象;厚度较薄的探测器在低能处的特性反而更好。 |
| 关 键 词： | 碲锌镉 探测器 能量谱 能量分辨率 峰值效率 |
| 收稿时间： | 2013-06-08 |
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