| 基于锑薄膜覆盖铅笔芯电极对Cd(Ⅱ)和Pb(Ⅱ)高灵敏度的检测(英文) |
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| 引用本文： | 陈珊,郑朝燕,方一民,郑丽清,孙建军.基于锑薄膜覆盖铅笔芯电极对Cd(Ⅱ)和Pb(Ⅱ)高灵敏度的检测(英文)[J].电化学,2014(4). |
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| 作者姓名： | 陈珊 郑朝燕 方一民 郑丽清 孙建军 |
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| 作者单位： | 福州大学化学学院;食品安全分析与检测教育部福建省重点实验室; |
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| 基金项目： | supported by National Science Foundation of China(Nos.20975022 and 21275030);The National Key Technologies R&D Program of China during the 12th Five-Year Plan Period(Key technology of quality and safety control duringaquatic product processing,No.2012BAD29B06) |
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| 摘 要： | 在铅笔芯上通过实时沉积锑薄膜,使用方波阳极溶出伏安法(SWASV)对Cd(Ⅱ)和Pb(Ⅱ)进行同时检测.沉积时间为180 s时,Cd(Ⅱ)和Pb(Ⅱ)的最低检测限分别为0.075μg·L-1和0.13μg·L-1,较铋膜修饰的铅笔芯电极低.在低pH值溶液(pH 2.0)中重现性好.该电极可成功用于测定自来水中的Cd(Ⅱ)和Pb(Ⅱ)含量.
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| 关 键 词： | 锑膜电极 阳极溶出伏安法 重金属离子 铅笔芯电极 |
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