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利用X射线K边减影成像研究铜离子在聚合物材料上的吸附
作者单位:中国科学院上海应用物理研究所,上海201204;中国科学院研究生院,北京100049;中国科学院上海应用物理研究所,上海,201204
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);国家自然科学基金;中国科学院国际合作局对外合作重点项目;上海市基础研究重点项目
摘    要:研究和开发新型有机功能材料来吸附重金属离子,是解决水体重金属污染的重要途径之一。采用传统技术,很难直接观察到吸附材料中重金属离子的分布。利用同步辐射X射线能量可调谐及其较强的穿透性,采用K边减影(KES)成像技术对此问题进行了研究。通过优化实验条件和图像配准、中值滤波等图像处理,成功地将这一技术运用到有机材料吸附金属离子过程的研究中,得到了非常清晰的铜离子在聚偏氟乙烯改性高分子材料上的分布图像。研究结果表明,铜离子被吸附后进入到吸附材料的内部。通过研究还发现,样品颗粒的尺度对铜离子进入颗粒内部的深度影响不明显,单位时间铜离子吸附的质量主要受到吸附材料表面积的影响。

关 键 词:图像处理  X射线显微成像  K边减影(KES)成像  有机吸收材料  重金属离子吸附
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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