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Spectroscopy and High‐Resolution Microscopy of Single Nanocrystals by a Focused Ion Beam Registration Method |
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| Authors: | Carolina Novo,Alison M. Funston,Isabel Pastoriza‐Santos,Luis M. Liz‐Marzá n,Paul Mulvaney |
| Abstract: | |
| Keywords: | Einzelpartikeluntersuchungen Elektronenmikroskopie Fokussierter Ionenstrahl Morphologie Oberflä chenplasmonenresonanz |