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| 用迈克尔孙干涉仪测量位移的精度改进 | |
| 引用本文： | 杨俊才,杨连贵.用迈克尔孙干涉仪测量位移的精度改进[J].物理实验,1997,17(2):80-80. |
| 作者姓名： | 杨俊才 杨连贵 |
| 作者单位： | 国防科学技术大学应用物理系!长沙，410073，国防科学技术大学应用物理系!长沙，410073，国防科学技术大学应用物理系!长沙，410073 |
| 摘 要： | 迈克尔孙于涉仪"是近代著名的物理实验内容，在工科物理实验教学中，基本都有测量He-He激光的波长或钠双线的波长差的内容.本文结合科研工作的实际，讨论用迈克尔孙干涉仪测量位移的精度改进，此内容可作为该课程的一个综合实验或选做内容.如图所示，根据非定域干涉圆条纹的"吞"、"吐"现象，若M；镜移动了距离nd引起条纹"吞"或"吐"的数目为N，则波长λ已知，可测得面d，这就是用迈克尔孙干涉仪测长的基本原理.由（1）式可知，用迈克尔孙于涉仪测量位移，其精度基本为半波长的数量级.如实验中采用He-Ne激光器，其值约为0.4μm.这对于一般… |
| 关 键 词： | 干涉仪 位移测量 测量精度 |
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