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| X-射线荧光分析散射函数法的原理及其应用Ⅲ.连续背景幂函数法 | |
| 作者姓名： | 包生祥 王志红 荣丽梅 |
| 作者单位： | 电子科技大学材料分析中心,610054,成都;电子科技大学材料分析中心,610054,成都;电子科技大学材料分析中心,610054,成都 |
| 摘 要： | 本文在宽的基体变化范围内对波长为0.081 nm的连续散射X-射线进行了研究,表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系,而是呈一种幂函数关系.理论证明和实验结果一致.提出了用0.081 nm处的散射强度的函数校正基体效应的方法,并用于地质样品中微量锶的测定,结果显示,在较大的基体变动范围内,本法与传统散射内标法相比准确度提高近4倍,克服了传统方法适应基体变化范围小的缺点. |
| 关 键 词： | X-射线荧光分析 连续散射 散射幂函数法 基体校正 |
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