| Nd:GGG晶体荧光寿命的测试 |
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| 引用本文： | 李昌立,孙晶,蔡红星,张喜和. Nd:GGG晶体荧光寿命的测试[J]. 光学与光电技术, 2006, 4(4): 50-52 |
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| 作者姓名： | 李昌立 孙晶 蔡红星 张喜和 |
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| 作者单位： | 长春理工大学理学院,长春,130022;长春理工大学理学院,长春,130022;长春理工大学理学院,长春,130022;长春理工大学理学院,长春,130022 |
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| 摘 要： | 针对Nd:GGG激光器,介绍了荧光寿命测试原理,设计了低频窄脉宽荧光寿命测试系统.该系统由光源、光路系统、驱动电路和探测系统等几部分组成.利用脉冲取样技术测试了Nd:GGG晶体的荧光寿命约为250μs左右.
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| 关 键 词： | Nd:GGG晶体 荧光寿命 脉冲取样技术 低频窄脉宽 |
| 文章编号： | 1672-3392（2006）04-0050-03 |
| 收稿时间： | 2005-10-24 |
| 修稿时间： | 2006-02-25 |
Testing of Fluorescence Lifetime of Nd:GGG Crystal |
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| LI Chang-li,SUN Jing,CAI Hong-xing,ZHANG Xi-he. Testing of Fluorescence Lifetime of Nd:GGG Crystal[J]. optics&optoelectronic technology, 2006, 4(4): 50-52 |
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| Authors: | LI Chang-li SUN Jing CAI Hong-xing ZHANG Xi-he |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Nd:GGG crystal fluorescence lifetime pulse sampling technique low frequency narrow pulse |
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