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ICP-AES测定高纯碲中11种杂质元素
引用本文:张朝阳,马名扬,苏流坤. ICP-AES测定高纯碲中11种杂质元素[J]. 光谱实验室, 2005, 22(1): 134-136
作者姓名:张朝阳  马名扬  苏流坤
作者单位:广东省生态环境与土壤研究所分析测试中心,广州市天源路808号,510650;广东省生态环境与土壤研究所分析测试中心,广州市天源路808号,510650;广东省生态环境与土壤研究所分析测试中心,广州市天源路808号,510650
摘    要:电感耦合等离子体原子发射光谱法 (ICP- AES)同时测定高纯碲中 11种杂质元素。用离峰扣背景法消除背景干扰 ,检出限能满足高纯碲中杂质元素的测定要求 ,加标回收率在 94 .0 %— 10 8%之间。

关 键 词:电感耦合等离子体-原子发射光谱法  高纯碲  杂质元素
文章编号:1004-8138(2005)01-0134-03
修稿时间:2004-05-26

Determination of Eleven Impurity Elements in High Purity Tellurium by ICP-AES
ZHANG Chao-Yang MA Ming-Yang SU Liu-Kun. Determination of Eleven Impurity Elements in High Purity Tellurium by ICP-AES[J]. Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory, 2005, 22(1): 134-136
Authors:ZHANG Chao-Yang MA Ming-Yang SU Liu-Kun
Abstract:The eleven impurity elements in high purity tellurium were determined by ICP-AE S.The interference of background was corrected by off-peak background correctio n.The detection limits are suitable for the detection of impurity elements in hi gh purity tellurium.The recoveries are in the range between 94.0% and 108%.
Keywords:ICP-AES  High Purity Tellurium  Impurity Elements.
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