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| 发射光谱法直接测定地质物料中微量的锶和钡 | |
| 引用本文： | 陈芳泉,肖什密.发射光谱法直接测定地质物料中微量的锶和钡[J].分析试验室,1986(5). |
| 作者姓名： | 陈芳泉 肖什密 |
| 作者单位： | 西北矿冶研究所 白银市 |
| 摘 要： | 用化学方法测定物料中的微量锶和钡是非常困难的,用N_2O-C_2H_2焰的原子吸收法测定的灵敏度也不高。本法选用了合适的缓冲剂和电极,有效地降低了光谱背景,可直接测定岩石、土壤等物料中3ppm以上的锶和钡。一、试剂及仪器工作条件用光谱纯或高纯试剂混合磨匀作为合成基体,其中含NaCl5％,Fe_2O_310％,MgO10％,Al_2O_325％,SiO_250％。以此配制两套标准,标1~#:Sr0.0003—0.007％,Ba0.003—0.07％标2:Sr0.0003—0.007％ |
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