电感耦合等离子体质谱法测定环境样品中超痕量239Pu的238UH+谱线干扰研究 |
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引用本文: | 韩小元,王江,田梅,张瑞荣,卓尚军.电感耦合等离子体质谱法测定环境样品中超痕量239Pu的238UH+谱线干扰研究[J].理化检验(化学分册),2013(4):377-381,385. |
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作者姓名: | 韩小元 王江 田梅 张瑞荣 卓尚军 |
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作者单位: | 西北核技术研究所;中科院上海硅酸盐研究所 |
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摘 要: | 环境样品中239 Pu的含量非常低,即使经过基体放化分离,238 UH+复合离子对239 Pu的干扰仍然很严重,直接扣除干扰谱线信号对分析结果的准确度影响较大。从仪器物理测量的角度研究了降低238 UH+复合离子产率的方法,包括进样系统、激发系统和离子界面层。研究结果表明,膜去溶装置可降低238 UH+复合离子产率一个数量级以上。射频功率对238 UH+复合离子的产率有一定的影响。在雾化气流速最佳的条件下,238 UH+复合离子产率达到最小值。Xs锥测量238 UH+复合离子产率的结果相对采用Xt锥的测量结果略低一些。
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关 键 词: | 电感耦合等离子体质谱法 239Pu 238UH+ 238UH+离子产率 |
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