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MEVVA源离子注入合成钕硅化物的研究
引用本文:王水凤,曾宇昕,程国安,徐飞.MEVVA源离子注入合成钕硅化物的研究[J].南昌大学学报(理科版),2002,26(3):259-261.
作者姓名:王水凤  曾宇昕  程国安  徐飞
作者单位:1. 南昌大学,物理学系,江西,南昌,330047
2. 南昌大学,材料科学与工程系,江西,南昌,330047
3. 北京师范大学低能物理所教育部射线束材料工程开放实验室,北京,100875
4. 复旦大学应用物理表面国家重点实验室,上海,200433
基金项目:国家自然科学基金资助项目(69766001)
摘    要:用MEVVA离子源将稀土Nd离子注入到硅基片中,可以合成出性能良好的钕硅化合物。用电子显微镜和X射线衍射对样品进行了观测,随着退火温度的升高,注入层的薄层方块电阻R□显著下降,注入层形成Nd5Si4和NdSi两种硅化钕相,并逐渐向NdSi相转变。

关 键 词:MEVVA源  离子注入  钕硅化物  结构  集成电路  离子束工艺  结晶性能  导电性
文章编号:1006-0464(2002)03-0259-03
修稿时间:2001年6月8日

STUDY OF Nd SILICIDES SYNTHESIS BY MEVVA SOURCE ION IMPLANTATION
Abstract:
Keywords:
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