首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Impact of CHFa Plasma Treatment on A1GaN/GaN HEMTs Identified by Low-Temperature Measurement
Authors:DU  Yan-Dong HAN  Wei-Hua YAN  Wei YANG  Fu-Hua
Institution:Engineering Research Center of Semiconductor Integrated Technology, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号