| 工具痕迹鉴定中的光学技术研究 |
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| 引用本文： | 王蕴珊,司书春,徐建强,周灿林,高成勇. 工具痕迹鉴定中的光学技术研究[J]. 实验力学, 2003, 18(1): 131-136 |
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| 作者姓名： | 王蕴珊 司书春 徐建强 周灿林 高成勇 |
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| 作者单位： | 山东大学,物理与微电子学院,济南,250061 |
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| 摘 要： | ![]()
工具痕迹由于形成的原因不同，其表面形成的原因不同，其表面形貌呈现多样性，从尺度范围上，大致可分为两类；一类痕迹尺度范围较大，一般在毫米级以上，可称为宏观痕迹；第二类痕迹尺度范围较小，一般在微米级，可称为微观痕迹，利用光学投影，缩束显微，二维调制图像模数转换及低通滤波去噪算法，小波变换，智能模板相位复原等处理技术。可精确，快速地得到工具痕迹鉴定所需的形貌信息，这成为用于识别，诊断领域中的光学图像处理新技术。本文介绍上述技术特点。并且提供了典型的应用实例。
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| 关 键 词： | 工具痕迹 痕迹鉴定 图像处理 |
| 文章编号： | 1001-4888(2003)01-0131-06 |
| 修稿时间： | 2002-07-18 |
A Study on the Optical Technology for Recognizing Toolmark Trace |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | toolmark trace trace identification image processing |
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