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| 基于Talbot-Moiré法测量透镜焦距的CCD亚像素标定技术 | |
| 作者姓名： | 吴玲玲 吴国俊 仓玉萍 陈良益 |
| 基金项目： | 中科院"西部之光"人才培养计划"西部博士资助项目"资助 |
| 摘 要： | 利用Ronchi光栅的Talbot效应和Moiré条纹测量长焦透镜焦距,根据焦距与莫尔条纹斜率之间的定量关系可求得透镜焦距.分别采用Canny算子和形态学方法对光栅的栅线中心进行像素级定位,再用高斯曲线拟合对其进行亚像素定位.经过对标准条纹的标定,验证了该方法的条纹中心定位误差小于0.1个像素.采用光栅作为系统的自基准对CCD像素当量进行了亚像素标定,为条纹斜率和宽度的计算提供了可靠的测量基准,经过计算,采用这些数据计算的焦距误差为0.10%. |
| 关 键 词： | 焦距测量 Talbot效应 莫尔条纹 亚像素 标定 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |