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| 萃取法-氢化物发生无色散原子荧光法直接测定有机相中痕量碲 | |
| 引用本文： | 郑毅,金泽祥,刘先国,王评.萃取法-氢化物发生无色散原子荧光法直接测定有机相中痕量碲[J].分析化学,1987(11). |
| 作者姓名： | 郑毅 金泽祥 刘先国 王评 |
| 作者单位： | 武汉地质学院应用化学系，武汉地质学院应用化学系，武汉地质学院应用化学系，武汉地质学院应用化学系 86级毕业生，86级毕业生 |
| 摘 要： | 氢化物发生-无色散原子荧光光谱法(HGAFS)用于水相中As、Bi、Ge、Pb、Se、Sb、Sn、Te等元素的测定,具有检出限低,方法简便快速等特点,已为许多分析工作者所熟悉。文献报道了在有机相中应用氢化物发生-原子吸收光谱法测定钢中锑。但在有机相中应用HGAFS测定痕量元素尚未见报道。本文用N,N-二甲基甲酰胺(DMF)溶解硼氢化钠,用冰乙酸调节有机相酸度,将HGAFS应用于有机相分析中,成功地测定 |
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