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掺杂浓度对电沉积法制备ZnS: Cu光学薄膜影响
引用本文:朱辉,黄剑锋,曹丽云,曾燮榕,熊信柏,吴建鹏.掺杂浓度对电沉积法制备ZnS: Cu光学薄膜影响[J].人工晶体学报,2009,38(3):681-684.
作者姓名:朱辉  黄剑锋  曹丽云  曾燮榕  熊信柏  吴建鹏
作者单位:陕西科技大学教育部轻化工助剂化学与技术重点实验室,西安,710021;陕西科技大学教育部轻化工助剂化学与技术重点实验室,西安,710021;深圳大学深圳市特种功能材料重点实验室,深圳,518060;深圳大学深圳市特种功能材料重点实验室,深圳,518060
基金项目:教育部"新世纪优秀人才支持计划",陕西科技大学研究生创新基金,深圳市特种功能材料重点实验室基金 
摘    要:采用阴极恒电压法在ITO(In2O3-SnO2)导电玻璃表面制备了ZnS: Cu薄膜,并用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和光致发光谱仪(PL)研究了掺杂浓度对ZnS: Cu薄膜的物相组成、显微结构及发光性能的影响.结果表明:控制Cu2+的质量掺杂浓度在0.4;以内,并不会改变ZnS薄膜的物相组成,而且会使薄膜的结晶程度有所提高.研究还发现,在pH=4.0,沉积电压为2 V,掺杂浓度为0.3 ;的条件下,所制得的ZnS: Cu薄膜光致发光光谱峰值最大,亮度最高.

关 键 词:ZnS:Cu薄膜  电沉积  掺杂浓度  光致发光  

Influence of Doping Concentration on ZnS:Cu Optical Thin Films Prepared by Electrodeposition
ZHU Hui,HUANG Jian-feng,CAO Li-yun,ZENG Xie-rong,XIONG Xin-bo,WU Jian-peng.Influence of Doping Concentration on ZnS:Cu Optical Thin Films Prepared by Electrodeposition[J].Journal of Synthetic Crystals,2009,38(3):681-684.
Authors:ZHU Hui  HUANG Jian-feng  CAO Li-yun  ZENG Xie-rong  XIONG Xin-bo  WU Jian-peng
Institution:1.Key Laboratory of Auxiliary Chemistry & Technology for Chemical Industry;Ministry of Education;Shaanxi University of Science & Technology;Xi'an 710021;China;2.Shenzhen Key Laboratory for Special Functional Materials;Shenzhen University;Shenzhen 518060;China
Abstract:
Keywords:
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