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测定微小晶体结构的电子晶体学图像处理技术
引用本文:李方华. 测定微小晶体结构的电子晶体学图像处理技术[J]. 物理, 2007, 36(04): 266-271.
作者姓名:李方华
作者单位:中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室北京100080
摘    要:介绍了2005年国家自然科学奖二等奖获奖项目“微小晶体结构测定的电子晶体学研究”.研究目的是建立一种借助高分辨电子显微像测定晶体结构的新方法.为此提出了高分辨电子显微学与衍射晶体学相结合的思想,在实现此思想的过程中,研究了像衬的规律,得出实用的像衬公式和理论,阐明了不同种类原子像衬与晶体厚度的关系,而且用理论指导实验,观察到晶体中锂原子的像衬.以此理论为依据,把衍射晶体学中的多种分析方法特包是直接法引入到高分辨电子显微学中,建立了一套全新的电子晶体学图像处理技术,开发了相应的可视化专用软件包,并应用于测定多个未知晶体结构.文中逐一介绍了研究工作全过程的关键问题和研究结果.

关 键 词:电子晶体学  晶体结构  电子衍射  高分辨电子显微学  图像处理  像衬理论  直接法  最大熵
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