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绝缘体二次电子发射系数测量装置的研制
引用本文:谢爱根, 郭胜利, 李传起, 等. 绝缘体二次电子发射系数测量装置的研制[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(01).
作者姓名:谢爱根  郭胜利  李传起  裴元吉
作者单位:1.南京信息工程大学 物理系, 南京 21 0044;;;2.中国科学技术大学 国家同步辐射实验室, 合肥 230029
摘    要:成功研制了测量绝缘体二次电子发射系数的测量装置,该装置主要由栅控电子枪系统、真空系统和电子采集系统组成,测量装置产生的原电子流的能量范围为0.8~60 keV。采用单脉冲电子枪法,测量了原电子能量范围为0.8~45 keV的多晶MgO的二次电子发射系数。测量中,收集极(偏置盒)离材料表面设置为约35 mm,偏置电压设置为 45 V。测量得到:用磁控溅射法制备的MgO的二次电子发射系数最大值约为2.83,处于 2~26范围内,其对应的原电子能量约为980 eV。这表明该装置测量的绝缘体二次电子发射系数是可信的,但用磁控溅射法制备的MgO的二次电子发射系数较低,这可能是制备MgO时引入了过多的杂质在MgO二次电子发射体里面所引起的。

关 键 词:测量装置   绝缘体   二次电子发射系数   氧化镁
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